我們的Bulletin 45MLD短距離光電雷射感測器是專為包裝、物料處理和半導體產業設計的Class II漫反射感測器。 這些感測器 通過三角測量提供背景抑制,建立固定焦點並抑制焦點以外的任何物體。可旋轉鏡頭還可讓您將焦點處的雷射光束光斑尺寸調整至0.5mm (0.02″),以精確感測小型目標,例如半導體與包裝應用中的間隙檢測、晶片檢測和裂縫檢測。
我們的Bulletin 45MLD短距離光電雷射感測器是專為包裝、物料處理和半導體產業設計的Class II漫反射感測器。 這些感測器 通過三角測量提供背景抑制,建立固定焦點並抑制焦點以外的任何物體。可旋轉鏡頭還可讓您將焦點處的雷射光束光斑尺寸調整至0.5mm (0.02″),以精確感測小型目標,例如半導體與包裝應用中的間隙檢測、晶片檢測和裂縫檢測。
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