Modules d’entrée de sécurité dans les systèmes de sécurité CIP

Une sortie de test peut être utilisée en association avec une entrée de sécurité pour la détection de court-circuit et de défaut entre voies.

Configurez la sortie de test en tant que source de test par impulsion et associez-la à une entrée de sécurité spécifique. L’entrée de sécurité associée doit utiliser un mode Point = Test de sécurité par impulsion.

Une sortie de test peut être affectée à un maximum de quatre entrées de sécurité.

Sur les modules d’entrée de sécurité, la largeur d’impulsion (X) est inférieure à 700 µs ; la période de cette impulsion (Y) est inférieure à 524 ms.

Lorsqu’un contact externe est fermé, une impulsion de test est émise par la borne de sortie de test pour diagnostiquer le câblage de terrain et les circuits d’entrée. En utilisant cette fonction, des courts-circuits entre les entrées et l’alimentation positive, et entre les lignes de signal d’entrée, peuvent être détectés. Toutefois, un court-circuit entre deux voies d’entrée ne peut pas être détecté si ces deux voies correspondent à la même sortie de test. Par exemple, vous associez la sortie de test 0 aux entrées de sécurité 0 et 7. Si ces deux voies sont en court-circuit, celui-ci ne peut pas être détecté.

Si une erreur est détectée sur la voie d’entrée, les données d’entrée de sécurité et l’état de l’entrée de sécurité passent à l’état désactivé.

La voie d’E/S prend en charge un mode « Latch Fault until Reset via Output Tag » (Verrouillage de défaut jusqu’à réinitialisation via le point de sortie) configurable par l’utilisateur au niveau du module et récupère d’un défaut de court-circuit d’entrée de sécurité.

Lorsque le mode Latch Fault (Verrouillage de défaut) est activé, la voie d’E/S conserve les indications de défaut d’entrée de sécurité jusqu’à ce qu’elle vérifie que le défaut est supprimé. Si le défaut est supprimé, la voie efface l’état de défaut uniquement sur détection que ResetFault dans sa voie d’assemblage consommé voit une transition de 0 à 1.

Lorsque le mode Latch Fault (Verrouillage de défaut) est désactivé (valeur par défaut), la voie d’E/S conserve les indications de défaut d’entrée de sécurité pendant 1 seconde jusqu’à ce qu’elle vérifie si le défaut est supprimé. Si le défaut est supprimé, la voie ne supprime l’état du défaut que si la détection de l’entrée de sécurité est basse sur la vis. Sinon, la voie continue à vérifier si le défaut est supprimé.

Vous pouvez augmenter la durée que prend un point d’entrée pour passer de On à Off et vice-versa. L'augmentation du temps est un retard du signal entre le module et l'automate.

La durée du délai est ajoutée à l’intervalle entre trames requis. Par exemple, si vous définissez le RPI sur 10 ms et utilisez un temps de retard d'entrée de 2 ms, le temps du signal entre le module et l'automate est de 12 ms.

Lorsque des vibrations parasites ou un couplage de bruit basse fréquence sont présents sur le signal d’entrée, une augmentation du temps nécessaire pour passer d’un état à un autre améliore l’immunité au bruit dans un signal.

Retard de Off à On

Description	Durées des délais de transition	Schéma
Un signal d’entrée est traité en niveau logique 0 pendant la temporisation de Off à On après le front montant du contact d’entrée. L’entrée passe à 1 seulement si le contact d’entrée reste activé une fois que la temporisation de Off à On s’est écoulée. Ce réglage empêche les modifications rapides des données d’entrée dues au rebond des contacts.	0 ms 2 ms 5 ms 10 ms 20 ms 50 ms